更新时间:2024-11-10
3650-EX SoC/Analog 測試系統主要特色:•50/100MHz測試工作頻率•1024個 I/O 通道(I/O Channel)•32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)•Per-Pin 彈性資源架構
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3650-EX SoC/Analog 測試系統
主要特色:
平行測試功能
Chroma 3650-EX可在一個測試頭中,提供zui多 1024個數位通道,並具備高產能的平行測試功 能,zui高可同時測試512 個待測晶片,以提升 量產效能。在Chroma 3650-EX中,每片單一的 HDLPC板擁有128個數位通道,並結合具備高效 能基礎的Pin Function (PINF) IC,每一顆 PINF IC 具備4個數位通道的時序產生器,以提供50ps 以 內的精準度。
彈性化架構
雖然半導體產業是一個變化快速的產業,但其 資產設備應建立在可符合長時間需求的設備之 上。Chroma 3650-EX在設計其架構時,應用先進 的規劃,具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組、類比測試模組等等選配,以確保 符合未來多年的測試需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組,可實現從 設計端至量產端使用同一PXI平台已減少因硬體 不同所造成的測試誤差。
CRISP (軟體測試環境)
架構在Windows 7作業系統上的Chroma 3650-EX 的軟體測試環境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form),是一個結合工程開發與量 產需求的軟體平台。主要包含四個部份 : 執行控 制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測 試機台管理模組。透過親切的圖形人機介面的 設計,CRISP提供多樣化的開發與除錯工具,包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組,可滿足研發/測試工程師開發程式時的需 求 ; 此外,Histogram tool 可用於重覆任一測試 參數,包含時序、電壓、電流等,以評估其測試 流程之穩定度。
在量產工具的部份,透過特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產平台,生產 人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產品導 向的圖形介面操作,用來控制 Chroma 3650-EX、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者可 先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI的 各項參數,以符合生產環境的需求。而操作員所 需進行的工作,只是選擇程式設計者已規劃好的 流程,即可開始量產,大幅降低生產線上的學習 的時間。
zui低價位的測試解決方案
要配合現今功能日趨複雜的IC晶片,需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成 本效益的測試解決方案,必須藉由降低測試時 間和整體成本來達成,而非只是簡單地減少測 試系統的價格而已。Chroma 3650-EX的設計即 是可適用於所有類型的應用環境,例如 : 工程驗 證、晶圓測試和成品測試。週邊設備。Chroma 3650-EX支援多種裝置的驅動程式介面(TTL& GPIB ) ,可進行與晶圓針測機和送料機,包括Chroma Handler、SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST 、ASECO、DAYMARC、、TSK、OPUS II等 等裝置之間的溝通。
應用支援
不管是新客戶或是現有客戶,Chroma 均提供廣 泛的應用支援,以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提昇生產 量、把握新興市場的機會、提高生產力、以創新 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量,Chroma 位於的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時解有效率的解決方案。