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更新时间:2024-11-10
3380-P VLSI測試系統主要特色:•85 MHz 測試頻率•512 logic I/O pins ( Z高可至 576 pins)•平行測試可達 512 devices•16/32 M Pattern 記憶體
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3380-P VLSI測試系統
主要特色:
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